原紗單強不勻率與強力弱環(huán)相關(guān)，單強不勻率高說明單紗強力離散度高，存在強力弱環(huán)的機會也越高。

　　光學(xué)技術(shù)系統(tǒng)及自動顯示技術(shù)，不僅自動地顯示出紗樣橫截面面積的變化曲線，而且能精確的顯示出每段紗上強力弱環(huán)與細節(jié)的相關(guān)情況。經(jīng)過聯(lián)合試驗儀的測試得出如下情況：

　　1、原紗斷裂點發(fā)生在紗的最細部分(短細節(jié)部分)紗的橫截面最小部分纖維根數(shù)最小承受張力至低：

　　2、長細節(jié)處會發(fā)生斷裂，長細節(jié)Ltp或較多的細節(jié)聯(lián)在一起，Xtp存在著斷裂弱環(huán)，Ltp越長在細節(jié)處Xtp絕對值越大，這部分細節(jié)的斷裂強力越低；

　　3、斷裂點發(fā)生在細節(jié)與粗節(jié)結(jié)合處；

　　4、試驗表明紗的重量偏差及重量不勻率對紗的斷裂力的影響不顯著；

　　5、當(dāng)斷裂點與細節(jié)粗吻合時，假如細節(jié)的細度低于設(shè)定的平均值-40%時，原紗在該處斷裂，經(jīng)反復(fù)大量試驗表明，斷裂點與細節(jié)之間有61%是相吻合的；

　　6、原紗細節(jié)與斷裂點之間相關(guān)程度試驗。從中可看出，紗線上的細節(jié)與原紗斷裂點十分相關(guān)，斷裂點發(fā)生在細節(jié)處的次數(shù)占全部斷裂次數(shù)的61%。

　　試驗表明有些細節(jié)不發(fā)生斷裂，還表明斷裂點不一定都發(fā)生在細節(jié)處。即斷裂點與細節(jié)并不*吻合。約有39%的斷裂點發(fā)生在弱捻、粗節(jié)、結(jié)頭等處。

　　除了要降低單紗強力不勻率，改善強力離散程度外，根據(jù)國內(nèi)許多廠家的實踐經(jīng)驗，認為由于機械原因產(chǎn)生的細節(jié)數(shù)量多、危害性大，因此在紡紗設(shè)備上做了許多改進，以防止因機械原因造成的細節(jié)。